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基于光学相干断层扫描的覆膜产品检测系统及检测方法

摘要

本发明涉及一种基于光学相干断层扫描的覆膜产品检测系统及检测方法,涉及外观缺陷检测领域,其中检测方法包括以下步骤:S1、在上料工位将覆膜产品放置在输送机构的检测平台上;S2、输送机构的驱动装置驱动检测平台带着覆膜产品进入检测工位;S3、光学相干断层扫描成像装置对覆膜产品进行断层扫描;S4、图像处理算法模块接收到3D解析图像后,对3D解析图像进行处理,然后进行缺陷识别及分类,并输出检测结果;S5、输送机构带着已经检测完成的覆膜产品进入分拣工位;S6、进行分拣归类。本发明能够对覆膜产品进行自动化检测,尤其能够对缺陷进行空间识别,从而精确识别是覆膜有缺陷,还是被测基体有缺陷,还是两者之间有附着物等缺陷。

著录项

  • 公开/公告号CN113607747A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-11-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 常州微亿智造科技有限公司;

    申请/专利号CN202111179308.3

  • 发明设计人 李惠芬;陈翠红;侯大为;潘正颐;

    申请日2021-10-11

  • 分类号G01N21/88(20060101);B07C5/36(20060101);B07C5/02(20060101);

  • 代理机构32338 常州易瑞智新专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人周浩杰

  • 地址 213023 江苏省常州市钟楼区星港路58号二号厂房

  • 入库时间 2023-06-19 13:09:01

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