一种快速排查IIC数据问题的系统及方法

摘要

本发明提供一种快速排查I IC数据问题的系统及方法，所述系统包括BMC和CPLD；CPLD包括数据解析模块和数据监控模块；BMC与数据解析模块连接，数据解析模块连接有I IC设备；数据解析模块与数据监控模块连接，数据监控模块与BMC连接，BMC还连接有数据存储模块；数据解析模块对I IC数据进行实时解析，再将解析后I IC数据发送给数据监控模块；数据监控模块I IC数据进行数据处理后，发送给BMC；BMC将I IC数据与BMC系统时间打包后，发送到数据存储模块。本发明通过CPLD实时监控和解析I IC数据，对I IC数据进行初步分析，并对I IC处理，提高I IC数据调试的工作效率，增强对系统的维护能力。