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包含具有硅-硅键的材料的研磨对象物的研磨方法

摘要

本发明提供:包含具有硅‑硅键的材料的研磨对象物的研磨方法中,能以高水平兼顾研磨后的该研磨对象物中的缺陷数和雾度的减少的方案。本发明涉及一种研磨方法,其为包含具有硅‑硅键的材料的研磨对象物的研磨方法,所述方法具备精加工研磨工序Pf,前述精加工研磨工序Pf具有多个研磨段,前述多个研磨段在同一研磨台上连续地进行,前述多个研磨段中的最后的研磨段为使用研磨用组合物Sff进行研磨的研磨段Pff,前述多个研磨段中的设置在前述研磨段Pff之前的研磨段为使用研磨用组合物Sfp进行研磨的研磨段Pfp,前述研磨用组合物Sff满足下述条件(A)和下述条件(B)的至少一个条件,条件(A):前述研磨用组合物Sff的标准试验1中得到的雾度参数的值小于前述研磨用组合物Sfp的标准试验1中得到的雾度参数的值,条件(B):前述研磨用组合物Sff包含磨粒Aff、碱性化合物Bff和羟乙基纤维素。

著录项

  • 公开/公告号CN113614198A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-11-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 福吉米株式会社;

    申请/专利号CN202080023899.2

  • 发明设计人 土屋公亮;浅田真希;百田怜史;

    申请日2020-01-30

  • 分类号C09K3/14(20060101);B24B37/00(20120101);H01L21/304(20060101);

  • 代理机构11277 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人刘新宇;李茂家

  • 地址 日本爱知县

  • 入库时间 2023-06-19 13:09:01

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