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控制基于半导体激光二极管的扫频源干涉仪系统的方法

摘要

本发明涉及用于控制基于半导体激光二极管的SS干涉仪系统(SS=扫频源)的方法,该干涉仪系统实现广泛的应用并且适合眼科中的应用,特别适用于成像和确定眼睛的生物计量测量值。在根据本发明的方法中,借助周期性电流调制设置单独半导体激光二极管的运行,以能够以尽可能高的重复率在宽的波长范围中调谐高相干光谱激光线。在此适配参数:中心波长、扫描率、扫描范围、眼睛处光功率和相干长度,以使该方法适合通过全眼扫描进行成像和生物计量应用。提出的基于半导体激光二极管的SS干涉仪系统特别设置用于眼睛的生物计量测量。因为展示优选基于光学相干断层扫描记录,所以主要应用在于眼科诊断、治疗和手术干预的准备及其后续检查。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-02-22

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 9/02 专利申请号:2020800239406 申请日:20200228

    实质审查的生效

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