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一种结合电离层层析技术的电离层TEC组合预测方法

摘要

一种结合电离层层析技术的电离层TEC组合预测方法。其包括利用电离层层析算法求取预测区域的电离层电子密度、计算垂直方向的总电子含量VTEC,利用IRI模型计算预测区域的VTEC;基于上述两种VTEC构建组合预测模型,实现模型训练,模型预测、模型测试结果以及模型的精度分析;本发明效果:首先利用长短期记忆LSTM模型对层析垂直总电子含量VTEC进行预测,进一步利用BP神经网络对LSTM模型与IRI模型的预测结果进行非线性拟合,由此改善了单一预测模型的弊端,较好地实现了对电离层垂直总电子含量VTEC的时序预测。

著录项

  • 公开/公告号CN113591991A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-11-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国民航大学;

    申请/专利号CN202110880389.3

  • 发明设计人 尹萍;闫晓鹏;

    申请日2021-08-02

  • 分类号G06K9/62(20060101);G06N3/04(20060101);G06N3/08(20060101);G01S19/37(20100101);

  • 代理机构12108 天津才智专利商标代理有限公司;

  • 代理人庞学欣

  • 地址 300300 天津市东丽区津北公路2898号

  • 入库时间 2023-06-19 13:05:40

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