一种AI芯片计算性能的测试方法、装置、设备、及介质

摘要

本公开提供了一种AI芯片计算性能的测试方法、装置、设备、及介质，涉及计算机技术领域，尤其涉及人工智能和深度学习技术领域，所述方法包括：根据待测AI芯片在开发过程中所形成的各项仿真模拟数据，形成待测AI芯片的计算性能结果数据；获取与待测业务功能匹配的功能指令集，所述功能指令集使用与待测AI芯片匹配的标准指令集中的多项指令组合构成；根据所述功能指令集，以及所述计算性能结果数据，预测所述待测AI芯片执行所述业务功能所需的计算耗时。本公开实施例的技术方案可以保证AI芯片计算性能预测结果的准确性，降低性能模拟器的开发和调试工作量。