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一种新的超级结器件及其制备方法

摘要

本发明公开了一种新的超级结器件及其制备方法,该器件包括:N+衬底;N‑漂移区,设置于N+衬底上表面;至少两个P型柱区,间隔设置于N‑漂移区内;若干P+体区,分别设置于P型柱区中最顶端的P型柱子区;若干N+源区,分别设置于P+体区内,且每个P+体区内设置有两个N+源区;若干栅绝缘层,分别设置于N型柱区中最顶端的N型柱子区、P+体区、N+源区上;若干栅极,分别设置于P+体区上方的栅绝缘层内;源极,设置于若干栅绝缘层、N+源区、P+体区上;漏极,设置于N+衬底下表面。本发明在P型柱区和N型柱区的底端进行N离子掺杂,使得水平方向的耗尽区很少扩散到N型柱区,通过减少耗尽层来拓宽电流流动的路径,从而减小源漏电阻,获得更高的电流密度。

著录项

  • 公开/公告号CN113540210A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-10-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安电子科技大学;

    申请/专利号CN202110681093.9

  • 申请日2021-06-18

  • 分类号H01L29/06(20060101);H01L29/78(20060101);H01L21/336(20060101);

  • 代理机构61230 西安嘉思特知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人刘长春

  • 地址 710000 陕西省西安市雁塔区太白南路2号

  • 入库时间 2023-06-19 12:56:12

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