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超导单磁通量子电路的测试系统及方法

摘要

本发明提供一种超导单磁通量子电路的测试系统及方法,包括:至少两部分待测电路,及与各待测电路一一对应的偏置参考电路;各待测电路依次连接,后级待测电路的输入端连接前级待测电路的输出端;各待测电路与对应的偏置参考电路接收同一偏置信号,通过所述偏置参考电路的输出信号调整对应偏置信号。本发明的超导单磁通量子电路的测试系统及方法单输入单输出,测试较为快捷方便,且有一定的复杂度,比较容易测出偏置信号但又不至于使得偏置信号的工作范围太大而没有参考意义;本发明为大规模电路的测试的偏置调节提供了参考,能极大地提高测试效率。

著录项

  • 公开/公告号CN113447795A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-09-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN202110716594.6

  • 发明设计人 任洁;陈理云;应利良;王镇;

    申请日2021-06-28

  • 分类号G01R31/28(20060101);

  • 代理机构31219 上海光华专利事务所(普通合伙);

  • 代理人施婷婷

  • 地址 200050 上海市长宁区长宁路865号

  • 入库时间 2023-06-19 12:45:17

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-02-03

    授权

    发明专利权授予

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