首页> 中国专利> 单晶X射线构造解析系统

单晶X射线构造解析系统

摘要

提供能够可靠且容易地进行将微量的试样向微细的晶体海绵的骨架内吸藏的缜密的工序的单晶X射线构造解析系统。具备吸藏装置(500)和单晶X射线构造解析装置,单晶X射线构造解析装置具备:产生X射线的X射线源;保持试样的试样固定器;安装试样固定器并来回转动的测角仪;对安装于测角仪的试样固定器中所保持的试样照射来自X射线源的X射线的X射线照射部;检测通过试样而衍射或散射的X射线来进行测定的X射线检测测定部;和基于在X射线检测测定部中检测到的衍射或散射X射线来进行试样的构造解析的构造解析部,试样固定器包括能够在形成于内部的多个微细孔吸藏试样的细孔性络合物晶体,吸藏装置(500)使试样吸藏在试样固定器的细孔性络合物晶体。

著录项

  • 公开/公告号CN113454447A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-09-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社理学;

    申请/专利号CN201980088789.1

  • 发明设计人 佐藤孝;

    申请日2019-11-21

  • 分类号G01N23/20025(20060101);G01N23/205(20060101);G01N23/207(20060101);G01N1/28(20060101);

  • 代理机构11021 中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人张远

  • 地址 日本国东京都

  • 入库时间 2023-06-19 12:43:46

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号