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光谱扫描共焦单次曝光数字全息测量系统及测量方法

摘要

本发明为一种光谱扫描共焦单次曝光数字全息测量系统及测量方法,其克服了现有技术中存在的针对待测物体的上、下表面及内部分层的微观结构,无法实现三维结构的快速测量,实现透明物体各分层界面微观形貌的高精度、非接触、同步三维形貌测量。本发明包括测量系统本体,测量系统本体包括依次设置的多光谱光源、显微物镜、透镜、分光镜一、聚焦色散透镜和待测物体,分光镜一后方设置有分光镜二,分光镜二前方依次设置有消色差显微物镜和光纤光谱仪,分光镜二后方设置有平面平晶,平面平晶前方依次设置有会聚透镜和滤波器,滤波器设置在平面平晶前表面反射光的会聚焦点处,滤波器前方设置有图像传感器,光纤光谱仪和图像传感器分别与计算机连接。

著录项

  • 公开/公告号CN113418470A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-09-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安工业大学;

    申请/专利号CN202110772728.6

  • 申请日2021-07-08

  • 分类号G01B11/24(20060101);

  • 代理机构61114 西安新思维专利商标事务所有限公司;

  • 代理人黄秦芳

  • 地址 710032 陕西省西安市未央区学府中路2号

  • 入库时间 2023-06-19 12:40:27

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-01-31

    授权

    发明专利权授予

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