双磁敏元件探头及基于探头的漏磁检测缺陷定量评价方法

摘要

双磁敏元件探头及基于探头的漏磁检测缺陷定量评价方法，包括步骤一：对试件进行计算或测试，基于神经网络建立缺陷参数和检测信号之间的非线性快速计算模型；步骤二：基于实际检测获取的提离值关联漏磁信号，确定待检测信号，并初始化缺陷特征参数；步骤三：将缺陷特征参数代入检测信号神经网络快速计算模型，生成预测信号；步骤四：基于当前信号预测值和待检测信号计算损失函数值；步骤五：若损失函数值不满足预设精度，通过智能优化算法更新缺陷特征参数，并返回步骤三重复迭代过程；若满足精度，则结束迭代，输出当前迭代步计算得到的缺陷参数值。本发明有效克服实际检测中的提离值扰动对缺陷尺寸评价精度的影响，实现缺陷尺寸参数的准确评价。