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基于溴插层多层石墨烯或石墨薄膜的碳基器件和电路结构的制备方法

摘要

本发明专利公开了一种基于溴插层多层石墨烯或石墨薄膜的碳基器件和电路结构的制备方法,在低功耗器件、超密集和超薄集成电路等领域具有应用前景。本发明通过对多层石墨烯或者石墨薄膜进行溴插层处理,提高了材料的电导性能。其中,导电通道为溴插层处理后再经过减薄的单层或双层石墨烯,溴被封装在单层或双层石墨烯与衬底之间或是双层石墨烯片层间,提高了沟道的导电性能。本发明通过图形化单片石墨烯或者石墨薄膜的方式,同时制备器件和电极以及局部互联线,极大地降低了器件和电路中的接触电阻,并且这种电路结构中的局部互联线不需要其他材料,从而简化了生产中的工艺制造过程。而且本发明中的制备工艺也可以与目前主流的半导体加工工艺相兼容。

著录项

  • 公开/公告号CN113380697A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-09-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京大学;

    申请/专利号CN202110493173.1

  • 申请日2021-05-07

  • 分类号H01L21/768(20060101);H01L23/532(20060101);C23C14/18(20060101);C23C14/24(20060101);C23C14/34(20060101);C23C16/26(20060101);C23C28/00(20060101);

  • 代理机构11360 北京万象新悦知识产权代理有限公司;

  • 代理人贾晓玲

  • 地址 100871 北京市海淀区颐和园路5号

  • 入库时间 2023-06-19 12:32:17

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-09-01

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):H01L21/768 专利申请号:2021104931731 申请公布日:20210910

    发明专利申请公布后的视为撤回

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