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一种具有自检测功能的模拟集成电路测试机

摘要

本发明涉及一种具有自检测功能的模拟集成电路测试机,包括外壳和清尘组件,所述外壳的内部左壁设置有清尘组件,所述清尘组件包括集尘箱、滤网、安装箱、吹风管和风机,且集尘箱的内部设置有滤网,所述集尘箱的下端设置有安装箱,所述安装箱的内部安装有风机。本发明的有益效果是:该具有自检测功能的模拟集成电路测试机,在停电时设备不会直接进行断电,减少集成电路上的电涌产生,对集成电路进行保护,同时设备能够定期对设备内部进行清尘,设备在工作前能够对设备进行自检测,防止设备自身损坏导致设备检测的数据错误,设备可以更换不同的显示装置,能符合不同集成电路的显示需求,设备中的弹簧结构能够便于两个电极紧密的接触。

著录项

  • 公开/公告号CN113359011A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-09-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 深圳市华测半导体设备有限公司;

    申请/专利号CN202110649968.7

  • 发明设计人 朱培;韩炳伟;

    申请日2021-06-10

  • 分类号G01R31/28(20060101);G01R1/04(20060101);G01R1/02(20060101);B08B5/04(20060101);

  • 代理机构44540 深圳市海盛达知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人欧阳士

  • 地址 518000 广东省深圳市龙岗区布吉街道龙珠社区京南路12号华美工业区4号厂房5楼南面5B

  • 入库时间 2023-06-19 12:30:38

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