一种基于模特征的阵列天线失效单元快速诊断方法

摘要

本发明公开了一种基于模特征的阵列天线失效单元快速诊断方法。首先，将含失效单元的阵列天线的远场方向图参考原点，依次数学搬移至阵列中每个单元的空间位置。其次将被搬移的阵列远场方向图在模式域中展开，当远场方向图参考原点被搬移到阵列中失效单元的位置时，其对应的模式基模分量会产生较大的零陷突变。由于该方法集中关注展开模式中的基模分量，方向图的采样无需满足奈奎斯特采样准则，因此该方法可通过稀疏化的截断采样，快速诊断阵列天线的失效单元。