用于存储器子系统控制器的专用可测试性设计路径

摘要

本申请案涉及用于存储器子系统控制器的专用可测试性设计路径。接收命令执行数据。所述命令执行数据包括对应于功能组件的块地址、对应于所述功能组件的可测试性设计DFT寄存器的寄存器识别符，和命令数据。将所述命令执行数据转换为串行命令。将所述串行命令提交到所述功能组件的所述DFT寄存器。接收对所述串行命令的响应。所述响应是由所述功能组件基于所述串行命令产生。将所述响应转换为命令响应数据，且提供到测试子系统。