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芯片中算法模块的验证方法、装置、设备及可读存储介质

摘要

本发明公开了一种芯片中算法模块的验证方法,包括:对算法模块验证请求进行解析,得到待验证的目标算法模块;调取目标算法模块对应的目标SystemC参考模型;通过预置输入代理获取目标算法模块对应的各测试用例,并按照预设时序将各测试用例分别输入至目标SystemC参考模型和目标算法模块;利用输出代理分别获取目标SystemC参考模型和目标算法模块的各级输出;分别对各级输出进行对应比较,得到目标算法模块的验证结果。本发明保证了目标SystemC参考模型和目标算法模块的时序一致性,较大地减轻了工作量,提高了验证效率。本发明还公开了一种装置、设备及存储介质,具有相应技术效果。

著录项

  • 公开/公告号CN113297073A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-08-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN202110552103.9

  • 发明设计人 李靖蕙;邵海波;祁鹏展;

    申请日2021-05-20

  • 分类号G06F11/36(20060101);

  • 代理机构11227 北京集佳知识产权代理有限公司;

  • 代理人侯珊

  • 地址 250001 山东省济南市自由贸易试验区济南片区浪潮路1036号浪潮科技园S01楼35层

  • 入库时间 2023-06-19 12:19:35

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-07-29

    授权

    发明专利权授予

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