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一种光照条件测试方法及适用于该测试的传感器阵列测试板

摘要

本发明公开了一种光照条件测试方法及适用于该测试的传感器阵列测试板,包括图卡切换机架和传感器阵列测试板;传感器阵列测试板包括传感器阵列测试板框架和设置在传感器阵列测试板框架内的传感器;传感器的收光窗口平面与传感器阵列测试板框架上表面处于同一水平面;在测试时,先使用传感器阵列测试板进行光照条件的测试;在光照条件达标后,切换图卡切换机架内的测试图卡进行实际测试。本发明可获得图卡表面的环境光数据,而不会因为在图卡上增加了别的元素而导致拍摄和分析结果变化;相对于传统在图卡上或周边放置传感器的方法,可以获取图卡表面而不是图卡前或图卡外某一点的照度数据;本发明的获取的数据能代表图卡上的真实照度数据。

著录项

  • 公开/公告号CN113301325A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-08-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 易诚博睿(南京)科技有限公司;

    申请/专利号CN202110515040.X

  • 发明设计人 王道宁;王毅;

    申请日2021-05-11

  • 分类号H04N17/00(20060101);

  • 代理机构11467 北京德崇智捷知识产权代理有限公司;

  • 代理人季承

  • 地址 210000 江苏省南京市雨花台区软件大道109号4幢407、408室

  • 入库时间 2023-06-19 12:19:35

说明书

技术领域

本发明涉及自动光照条件测试领域,特别涉及一种光照条件测试方法及适用于该测试的传感器阵列测试板。

背景技术

在专利申请号为:201821039363.6,专利申请名称为:一种可更换图卡库的自动图卡切换机架,提出了一种可更换图卡库的自动图卡切换机架,其通过设置有滑轨和滑动组件,可以方便的将图卡图从相机测试平台中移出并整体更换。

目前摄像头测试中大量使用不同的光源,实现不同的照度色温及光谱的组合,但大都使用较大体积的色温照度传感器进行测量。

当采用手工测量时,会把传感器放在图卡表面,但因其传感器本身的厚度,实际测量的只能是图卡前一定距离的照度。

由于照度与测量位置的关系很大,一般是与光源距离的平方成反比,这样测出的照度误差很大,光源离图卡的距离越近,产生的误差越大。

目前也有系统是在图卡旁边放置传感器,虽可实时采集到照度色温信息,但仍然难以得到图卡上不同位置实际的照度色温及均匀性的数据。

因此,目前相关测试系统都很难高效稳定的得到真实的图卡表面的光照指标,对于全自动测试是难以突破的障碍。

发明内容

本发明要解决的技术问题:本发明的目的是为了解决现有技术中的不足,提供一种可高效稳定的得到真实的图卡表面的光照指标的光照条件测试方法。

本发明的技术方案:本发明所述的一种光照条件测试方法,包括图卡切换机架和传感器阵列测试板;所述传感器阵列测试板包括传感器阵列测试板框架和设置在传感器阵列测试板框架内的传感器;所述传感器的收光窗口平面与所述传感器阵列测试板框架上表面处于同一水平面;

在测试时,先使用图卡切换机架上的传感器阵列测试板进行光照条件的测试;在光照条件达标后,切换图卡切换机架内的测试图卡到之前传感器阵列测试板所在的相同位置进行实际测试。

进一步的,所述传感器阵列测试板框架内设有可为所述传感器供电的电源。

进一步的,所述传感器阵列测试板与外部数据交互方式为无线通信。

进一步的,所述图卡切换机架内设有匹配所述传感器阵列测试板的卡库底座。

本发明还公开一种适用于光照条件测试的传感器阵列测试板,包括传感器阵列测试板框架和设置在传感器阵列测试板框架内的传感器;所述传感器的收光窗口平面与所述传感器阵列测试板框架上表面处于同一水平面。

进一步的,所述传感器阵列测试板框架包括两侧区和中间区。

本发明与现有技术相比的有益效果:

1.本发明可获得图卡表面的环境光数据,而不会因为在图卡上增加了别的元素而导致拍摄和分析结果变化;相对于传统在图卡上或周边放置传感器的方法,可以获取图卡表面而不是图卡前或图卡外某一点的照度数据;本发明的获取的数据能代表图卡上的真实照度数据。本测试方法不会随着光源到图卡距离的缩小,而导致测试数据与真实数据差异增大。

2.本发明可以同步评估照度的均匀性、稳定性和与目标值的差异,并记录照度在图卡尺寸范围内的分布,对于全自动测试至关重要。在实际测试中通过光源每一次变化的测量可以将测试光照条件数字化。

3.本发明结合终端切换平台、图卡切换机架及相应控制软件可以实现不同光照条件下的摄像头不同指标的全自动测试。

附图说明

图1为本发明中图卡切换机架的结构示意图;

图2为本发明中传感器阵列测试板框架的具体结构示意图。

具体实施方式

为了加深本发明的理解,下面我们将结合附图对本发明作进一步详述,该实施例仅用于解释本发明,并不构成对本发明保护范围的限定。

如图1示出了本发明一种光照条件测试方法的实施方式,包括图卡切换机架和传感器阵列测试板;其中,图卡切换机架包括终端切换平台1和图卡切换机架3;图卡切换机架3内设有测试图卡31;终端切换平台1设置在终端切换平台机架2上,终端切换平台1可沿终端切换平台机架2运动,远离或接近图卡切换机架3。其中,终端切换平台1上放置有发射光源的显像设备。

传感器阵列测试板包括传感器阵列测试板4和设置在传感器阵列测试板4内的传感器5;传感器5的收光窗口平面与传感器阵列测试板4上表面处于同一水平面;传感器阵列测试板框架40内设有可为传感器5供电的电池。。图卡切换机架3内设有匹配传感器阵列测试板的卡库底座;卡库底座内设有为电池供电的充电装置。

其中,传感器阵列通过无线方式与主机通信,且在相应的传感器阵列测试板框架上安装了可充电电池为传感器阵列供电,这样就简化机械设计,传感器阵列测试板在移动过程中没有了线缆的牵绊,可以方便稳定的移动到指定位置。

使用完成后,图卡切换机架3内传感器阵列测试板4与测试图卡31会放置在卡库底座的固定位置中。当传感器阵列测试板4放置好后会自动实现电源连接,持续为电池充电,这样就保证了传感器阵列测试板在测试过程中可长期持续使用,不需人工进行更换电池或充电的操作。

在测试时,先使用传感器阵列测试板进行光照条件测试;在光照条件达标后,切换图卡切换机架内的测试图卡到之前传感器阵列卡所在的相同位置进行实际测试。

其中,优选的,传感器5为无线通讯传感器,在两侧区内设置传感器5少于中间区内设置的传感器5。

本发明还涉及一种适用于光照条件测试的传感器阵列测试板,如图2所示,包括传感器阵列测试板框架40和设置在传感器阵列测试板框架40内的传感器5;传感器5的收光窗口平面与传感器阵列测试板框架40上表面处于同一水平面。其中,传感器阵列测试板框架40包括两侧区和中间区。

本发明具有可高效稳定的得到真实的图卡表面的光照指标,且测试结果不受光源到图卡距离影响的特点,精准度高。

上述具体实施方式,仅为说明本发明的技术构思和结构特征,目的在于让熟悉此项技术的相关人士能够据以实施,但以上内容并不限制本发明的保护范围,凡是依据本发明的精神实质所作的任何等效变化或修饰,均应落入本发明的保护范围之内。

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