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相干光通信波前校正中去除与补偿子孔径光斑坏点的方法

摘要

本发明公开了一种相干光通信波前校正中去除与补偿子孔径光斑坏点的方法具体包括如下步骤:步骤1,基于传感器子孔径阵列对光斑的辐照功率和响应电压特性,定义一个响应率参数R(i,j),作为参考变量;步骤2,根据步骤1中定义的响应率参数R(i,j),设置一个阈值T,判断并检测出焦平面的坏点,并将坏点处的响应率的值置零去除;步骤3,采用坏点周围的有效点信息对步骤2检测的坏点位置的信息进行插值预测和代替补偿;步骤4,重复执行步骤2~3,进行动态波前坏点去除与补偿,直到步骤2中设置的阈值范围内检测不到坏点,输出此时的光斑阵列图。采用本发明能够实现对坏点的有效去除与补偿,以减小AO系统的校正误差。

著录项

  • 公开/公告号CN113280932A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-08-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安理工大学;

    申请/专利号CN202110420356.0

  • 发明设计人 柯熙政;费少龙;

    申请日2021-04-19

  • 分类号G01J9/00(20060101);

  • 代理机构61214 西安弘理专利事务所;

  • 代理人曾庆喜

  • 地址 710048 陕西省西安市碑林区金花南路5号

  • 入库时间 2023-06-19 12:18:04

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-04-12

    授权

    发明专利权授予

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