分配执行存储器组件的测试的测试资源

摘要

可接收用以利用一或多个存储器组件执行测试的请求。可确定与存储器组件相关联的测试平台的可用测试资源。可确定由所述测试指定的所述一或多个存储器组件的期望特性。可基于与所述可用测试资源中的一或多个相关联的各别存储器组件的特性和所述测试的所述一或多个存储器组件的所述期望特性而将所述测试平台的所述可用测试资源中的所述一或多个指派给所述测试。此外，可利用所述测试平台的所述可用测试资源中的所指派一或多个来执行所述测试。

说明书

技术领域

本公开大体上涉及一种存储器子系统，且更具体地说，涉及分配执行存储器子系统的存储器组件的测试的测试资源。

背景技术

存储器子系统可以是存储系统，如固态驱动器(SSD)或硬盘驱动器(HDD)。存储器子系统可以是存储器模块，如双列直插式存储器模块(DIMM)、小型DIMM(SO-DIMM)或非易失性双列直插式存储器模块(NVDIMM)。存储器子系统可包含存储数据的一或多个存储器组件。存储器组件可例如是非易失性存储器组件和易失性存储器组件。一般来说，主机系统可利用存储器子系统来将数据存储在存储器组件处且从存储器组件检索数据。

附图说明

根据下文给出的详细描述和本公开的各种实施方案的随附图式，将更充分地理解本公开。

图1说明根据本公开的一些实施例的分配执行存储器组件的测试的测试资源的实例环境。

图2是根据本公开的一些实施例的分配执行存储器组件的测试的测试资源的实例方法的流程图。

图3是根据一些实施例的基于存储器组件的特性和所请求测试而分配测试资源的实例方法的流程图。

图4说明根据本公开的一些实施例的测试资源的分配。

图5是根据一些实施例的分配用于存储器组件的测试的可用测试资源的实例方法的流程图。

图6是其中可操作本公开的实施方案的实例计算机系统的框图。

具体实施方式

本公开的方面是针对用以执行存储器组件的测试的测试资源的分配。存储器子系统在下文也称为“存储器装置”。存储器子系统的实例是经由外围互连件(例如，输入/输出总线、存储区域网络)耦合到中央处理单元(CPU)的存储装置。存储装置的实例包含固态驱动器(SSD)、快闪驱动器、通用串行总线(USB)快闪驱动器和硬盘驱动器(HDD)。存储器子系统的另一实例是经由存储器总线耦合到CPU的存储器模块。存储器模块的实例包含双列直插式存储器模块(DIMM)、小外形DIMM(SO-DIMM)和非易失性双列直插式存储器模块(NVDIMM)等。在一些实施例中，存储器子系统可以是混合式存储器/存储装置子系统。一般来说，主机系统可利用包含一或多个存储器组件的存储器子系统。主机系统可提供数据以存储于存储器子系统处且可请求从存储器子系统检索数据。

可在存储器子系统中利用之前测试在存储器子系统中使用的存储器组件。在常规测试过程中，存储器组件可放置到在各种温度条件下测试存储器组件的腔室(即，烘箱)中。举例来说，单个腔室可用于在特定温度下一次性地测试多个存储器组件。测试过程可指导待在特定温度下在存储器组件处执行的各种操作。此类操作可包含但不限于读取操作、写入操作和/或擦除操作。当执行测试过程时可观察存储器组件的性能和行为。举例来说，可在测试过程期间测量和记录存储在存储器组件处的数据的性能特性(例如，读取或写入时延)和可靠性。然而，由于腔室可在任何特定时间仅将单一温度施加到存储器组件，因此在许多不同温度下对存储器组件的测试可需要大量时间，因为将需要针对每一所要温度执行测试过程。另外，腔室一次仅可执行单个测试过程。因而，如果需要针对存储器组件的测试过程的许多不同条件，那么在不同操作条件(例如，不同温度)下执行存储器组件的不同测试可利用大量时间。

本公开的方面通过分配执行存储器组件的测试的测试资源来解决以上和其它缺陷。分散式测试平台可包含多个测试资源。每一测试资源可以是包含存储器组件的测试插座。测试插座可进一步包含用于将特定温度条件施加到包含于测试插座中的存储器组件的温度控制组件。测试平台可进一步包含多个测试板，所述多个测试板各自包含测试插座中的一或多个。测试板可组织成群组或机架，且多个机架可在特定位置或位点处。如此，多个位点可包含包含多个测试插座的测试板的机架。测试平台的机架可经由网络耦合到资源分配器(例如，服务器或其它此类计算装置)，所述资源分配器用于控制或执行在跨越不同测试板、测试机架和位点或位置的测试平台的各种测试插座处的测试。

测试平台的测试资源可用于在同一时间在测试平台上执行多个不同测试过程。举例来说，测试插座的第一子集可用于执行第一测试，而测试平台的测试插座的第二子集可用于并行地执行第二测试。如此，资源分配器可分配或指派待用于存储器组件的新测试的测试插座。新测试可指定待用于测试的存储器组件的特定特性或类型以及温度控制组件待施加到测试插座处的存储器组件的特定温度。此类特性可包含但不限于存储器组件的类型(例如，设计版本)和存储器组件的使用特性。资源分配器可接着基于由新测试指定的特性以及测试平台的额外信息而将测试平台的可用测试插座指派给新测试。举例来说，可用测试插座可进一步基于跨越测试平台的各种测试机架或位点的测试插座的位置而指派且温度控制组件可用于施加由测试指定的温度。因此，测试平台可以是跨越不同位置或位点的测试插座的分散式集合。测试平台的测试插座的不同群组可基于由不同测试指定的测试插座的特定特性而指派给不同测试。

本公开的优点包含但不限于减小测试平台用以执行存储器组件的测试的时间量。此外，由于可在测试平台处执行许多不同测试以在许多不同操作序列的执行期间测试许多不同条件(例如，不同温度)，所以存储器组件的测试可视为更稳固，因为可通过执行许多不同和并行的测试来测试存储器组件的可靠性和性能。如此，由于可更快速地执行存储器组件的许多不同测试，所以也可提高存储器组件的可靠性，因为可在待包含于存储器子系统中的存储器组件的设计或制造中识别且稍后解决任何潜在缺陷或瑕疵。

图1说明根据本公开的一些实施例的分配执行存储器组件的测试的测试资源的实例环境。测试平台100可包含一或多个机架110A、110B和110N。机架110A、110B和110N中的每一个可包含多个测试板120，其中每一测试板120包含一或多个测试插座(即，测试资源)。测试平台100可包含任何数目的机架或测试插座。

如所展示，测试板120可包含一或多个测试插座。举例来说，测试板120可包含第一测试插座121、第二测试插座122和第三测试插座123。尽管展示三个测试插座，但测试板120可包含任何数目的测试插座。每一测试插座可包含已嵌入于各别测试插座内的存储器组件。另外，每一测试插座可包含用于将温度条件应用于嵌入式存储器组件的温度控制组件。在一些实施例中，温度控制组件可以是双珀尔帖(Peltier)装置(例如，两个珀尔帖装置)，所述双珀尔帖装置利用珀尔帖效应在耦合到嵌入式存储器组件的双珀尔帖装置的表面处应用加热或冷却效应。在相同或替代实施例中，温度控制组件可放置在各别测试插座中的存储器组件的顶部上。

如所展示，每一测试机架110A、110B和110N可包含多个测试板120。特定测试机架的测试板120中的每一个可与本地测试组件耦合。举例来说，每一测试机架110A、110B和110N可分别包含本地测试组件111A、111B和111N。本地测试组件111A、111B和111N中的每一个可接收执行待在各别测试机架的测试插座处执行的测试或测试的一部分的指令。举例来说，资源分配器组件130可(例如，从用户)接收待执行的测试的条件，且资源分配器组件130可跨越可通过测试使用的测试机架110A、110B和110N中的一或多个处的不同测试板120来确定特定测试插座。在一些实施例中，资源分配器组件130可由服务器131提供。在一些实施例中，服务器131是经由网络与本地测试组件111A、111B和111N耦合的计算装置或系统。

每一测试板120的每一测试插座121、122和123的温度控制组件可用于将不同温度条件应用于各别嵌入式存储器组件。此外，每一测试插座121、122和123可用于在嵌入式存储器组件处执行不同操作。

资源分配器组件130可从用户接收测试输入。测试输入可指定待利用一或多个存储器组件执行的测试的条件。举例来说，测试可指定待施加到存储器组件的特定温度条件和待在特定温度条件下在存储器组件处执行的操作序列。资源分配器130可检索数据结构，所述数据结构识别跨越测试平台100的可用测试插座以及可用测试插座的特性。随后，资源分配器组件130可指派测试平台100处的测试插座，所述测试插座包含匹配或满足测试的条件的嵌入式存储器组件。资源分配器组件130可接着将指令传输到包含待用于测试的测试插座的测试机架的本地测试组件。下文描述相对于资源分配器组件130的其它细节。

图2说明根据本公开的一些实施例的分配执行存储器组件的测试的测试资源的实例方法200。方法200可由处理逻辑执行，所述处理逻辑可包含硬件(例如，处理装置、电路、专用逻辑、可编程逻辑、微码、装置的硬件、集成电路等)、软件(例如，在处理装置上运行或执行的指令)或其组合。在一些实施例中，方法200由图1的资源分配器组件130执行。虽然以特定序列或次序来展示，但除非另外规定，否则可修改过程的次序。因此，所说明实施例应仅作为实例理解，且所说明过程可以不同次序执行，且一些过程可并行执行。另外，可在各种实施例中省略一或多个过程。因此，在每一实施例中并不需要所有过程。其它过程流程是可能的。

如所展示，在操作210处，处理逻辑接收利用一或多个存储器组件来执行测试的请求。举例来说，用户可提供通过测试平台运行存储器组件的测试的请求。测试可指定待由存储器组件执行的操作。此类操作可包含但不限于读取操作、写入操作和擦除操作。在一些实施例中，测试指定多个操作的序列。测试可指定在其下待在特定存储器组件处执行操作的操作条件。当在存储器组件处执行操作时，操作条件可以是存储器组件的温度条件。在一些实施例中，测试可指定对应于待用于测试的存储器组件的期望特性的所要条件。存储器组件的期望特性可包含但不限于已由存储器组件执行的操作的数目。举例来说，期望特性可指定已具有或多或少的特定数目的编程-擦除操作或循环和特定数目的读取操作的存储器组件。在一些实施例中，期望特性可包含已应用于存储器组件的先前温度条件。举例来说，可指定在其下已在用于先前测试的存储器组件处执行操作的先前温度(即，存储器组件的温度概况)。在一些实施例中，测试可指定待用于测试的特定类型的存储器组件。举例来说，可指定待用于测试的存储器组件的特定版本(即，设计或制造修订本)。如此，用户可提供指定在其下待在测试平台处执行存储器组件的测试的条件的信息。

在操作220处，处理逻辑确定测试平台的可用测试插座。举例来说，可识别当前正不用于执行另一测试或不排程为用于执行另一测试的测试平台的测试板处的测试插座。举例来说，测试平台可包含数个测试插座且测试插座的子集可当前由存储器组件的另一测试使用，而测试插座的第二子集当前不正由存储器组件的另一测试使用。因此，测试插座的第二子集可视为可用测试插座。在一些实施例中，测试可指定其中测试待完成的时段。此情况下的可用测试插座可以是在所述时段内可用于测试的测试插座。如此，如果特定测试插座当前正由测试使用且然后将排程为空闲或可用且测试可在指定时段内在特定测试插座处执行操作，那么特定测试插座可视为可用测试插座。在操作230处，处理逻辑确定与测试相关联的一或多个存储器组件的特性。举例来说，如先前所提及，测试可指定对应于待用于测试的存储器组件的期望特性的测试的条件。因此，待用于测试的存储器组件的期望特性可由对测试的请求提供。在一些实施例中，可用测试插座可以是正不由另一测试使用且与由测试指定的存储器组件的期望特性匹配的测试插座。因此，测试平台的测试插座(即，测试资源)的第一子集可以是与由测试指定的条件匹配的可用测试插座且测试插座的第二子集可以是不可用和/或不与由测试指定的条件匹配的测试插座。结合图3描述相对于匹配期望特性的其它细节。

在操作240处，处理逻辑基于一或多个存储器组件的特性而在可用测试插座处利用一或多个存储器组件执行测试。举例来说，测试可在当前正不由另一测试使用且具有与由测试指定的期望特性匹配的特性的测试插座处执行。测试可在跨越测试平台包含于不同测试机架中的不同测试插座处执行。测试的执行可在不同测试插座处应用不同温度条件，同时在测试插座处执行操作的不同或相同序列。举例来说，第一插座可在第一温度下运行操作的序列且第二测试插座可在不同的第二温度下运行操作的相同序列。在一些实施例中，第一测试插座可在一温度下运行操作的第一序列且第二测试插座可在同一温度下运行操作的不同第二序列。在相同或替代实施例中，应用于特定测试插座的温度条件可在操作序列的执行期间变化。

图3是根据一些实施例的基于存储器组件的特性和所请求测试而分配测试资源的实例方法300的流程图。方法300可由处理逻辑执行，所述处理逻辑可包含硬件(例如，处理装置、电路、专用逻辑、可编程逻辑、微码、装置的硬件、集成电路等)、软件(例如，在处理装置上运行或执行的指令)或其组合。在一些实施例中，方法300由图1的资源分配器组件130执行。虽然以特定序列或次序来展示，但除非另外规定，否则可修改过程的次序。因此，所说明实施例应仅作为实例理解，且所说明过程可以不同次序执行，且一些过程可并行执行。另外，可在各种实施例中省略一或多个过程。因此，在每一实施例中并不需要所有过程。其它过程流程是可能的。

如所展示，在操作310处，处理逻辑接收利用存储器组件执行测试的指示。举例来说，用户可指定待利用存储器组件执行的测试的条件。条件可指示待用于测试的存储器组件的期望特性和待应用于所利用存储器组件的温度条件。测试可进一步指定待在测试期间在存储器组件处执行的操作的序列。在操作320处，处理逻辑确定可用以由测试使用的测试平台的测试插座。举例来说，可在整个测试平台中识别当前正不由测试使用或可用于在由用户指定的时间阈值内完成测试的测试插座。

在操作330处，处理逻辑接收测试平台的可用测试插座处的存储器组件的特性。特性可以是当前嵌入于可用测试插座内的存储器组件中的每一个的执行概况。执行概况可识别已在存储器组件处执行的数个操作。因此，执行概况可指示用于已在具有包含存储器组件的测试插座的测试平台处执行的先前测试的存储器组件的使用历史。在一些实施例中，特性可以是当前嵌入于可用测试插座内的存储器组件中的每一个的温度概况。举例来说，温度概况可指示在先前测试期间已施加到存储器组件的先前温度以及何时先前温度在先前测试期间施加到存储器组件。如此，存储器组件的特性可基于已利用测试插座的先前测试或利用存储器组件的测试资源。

此外，在操作340处，处理逻辑接收测试平台的可用测试插座处的存储器组件的设计信息。设计信息可指定每一存储器组件的设计或制造版本。设计或制造版本可指示存储器组件的特定设计或制造或制作存储器组件的时间。存储器组件的每一不同设计可引起存储器组件的不同结构。在一些实施例中，设计信息可指定已限定用于存储器组件的设置(即，微调)。设置可以是可更新或改变且用于控制存储器组件的功能性的值。因此，由于存储器组件的过程改变或其它此类物理改变和/或已限定用于存储器组件的设置，设计信息可指定存储器组件的设计或制造版本。在操作350处，处理逻辑接收测试平台的可用测试插座的位置资讯。位置信息可指定包含在其处定位每一可用测试插座的测试机架的特定地理位置或位点。位置信息可进一步识别包含可用测试插座的特定测试机架。因此，位置信息可用于识别在单一地理位置或位点处的测试插座的群组或在单一测试机架处可用的测试插座的群组。

接收到的特性信息、设计信息和位置信息可存储于包含资源分配器组件的服务器处的数据结构处。数据结构可随着在测试平台处执行测试而更新。举例来说，数据结构可更新以反映随着执行新测试而改变的存储器组件的新特性(例如，新执行概况或温度概况)。当存储器组件嵌入于测试插座内时，可提供设计信息，且位置信息可由管理员提供以存储于数据结构处。

如所展示，在操作360处，处理逻辑可基于可用测试插座处的存储器组件的特性和设计信息和可用测试插座的位置信息而在可用测试插座处执行测试。举例来说，具有具备与测试的期望特性匹配的特性的存储器组件的测试插座可保留或用于测试。类似地，具有具备与所要设计版本匹配的设计版本的存储器组件的测试插座可保留或用于测试。此外，测试插座的群组可基于测试插座的位置而用于测试。结合图4描述关于利用测试插座的位置的其它细节。满足测试的条件(例如，与期望特性或设计信息匹配)且满足位置准则的可用测试插座可用于执行测试。

图4说明根据本公开的一些实施例的测试资源的分配。测试资源的分配可由处理逻辑执行，所述处理逻辑可包含硬件(例如，处理装置、电路、专用逻辑、可编程逻辑、微码、装置的硬件、集成电路等)、软件(例如，在处理装置上运行或执行的指令)或其组合。在一些实施例中，测试资源的分配由图1的资源分配器组件130执行。

在一些实施例中，满足测试的条件的可用测试插座可基于可用测试插座的位置信息而选择。可用测试插座可基于策略而选择，所述策略指定选择单一地理位置或位点处的可用测试插座。举例来说，如所展示，第一位置410可包含第一测试机架411和第二测试机架412。第二位置420可包含第三测试机架421。位置410和420中的每一个可以是分离位置。举例来说，第一位置410的测试机架可以是与包含资源分配器组件的服务器耦合的第一网络的部分且第二位置420的其余机架可以是与包含资源分配器组件的同一服务器耦合的不同第二网络的部分。

如图4中所展示，具有‘X’的测试插座表示不可用于所请求测试的测试插座。举例来说，此类测试插座可当前由另一测试使用。如先前描述，策略可指定选择单一地理位置或位点处的可用测试插座。如果测试将使用可用测试插座处的七个存储器组件，那么第一位置410处的七个测试插座可选择或保留用于测试以代替使用或保留第二位置420处的任何可用测试插座。单一位点处的测试插座的利用可引起测试以较少时间执行，因为测试数据可在本地在位点处收集且提供回到资源分配器组件。在一些实施例中，策略可指定利用单一位点处的更多测试机架。举例来说，在测试中使用的测试插座可定位于单一位点或位置处的多个测试机架中。举例来说，如果测试指定将利用六个测试插座，那么所利用测试插座中的三个可定位于第一测试机架411处且所利用测试插座中的另三个可定位于第二测试机架412处。

图5是根据一些实施例的分配用于存储器组件的测试的可用测试资源的实例方法500的流程图。方法500可由处理逻辑执行，所述处理逻辑可包含硬件(例如，处理装置、电路、专用逻辑、可编程逻辑、微码、装置的硬件、集成电路等)、软件(例如，在处理装置上运行或执行的指令)或其组合。在一些实施例中，方法500由图1的资源分配器组件130执行。虽然以特定序列或次序来展示，但除非另外规定，否则可修改过程的次序。因此，所说明实施例应仅作为实例理解，且所说明过程可以不同次序执行，且一些过程可并行执行。另外，可在各种实施例中省略一或多个过程。因此，在每一实施例中并不需要所有过程。其它过程流程是可能的。

如所展示，在操作510处，处理逻辑接收用以在测试平台处执行存储器组件的测试的请求。在操作520处，处理逻辑确定与存储器组件相关联的测试平台的测试资源。举例来说，每一测试资源(即，测试插座)可包含分离存储器组件。数据结构可识别测试平台处的每一测试资源。在操作530处，处理逻辑确定在平台处不由一或多个其它测试使用的测试资源的子集。举例来说，测试平台可正执行存储器组件的多个测试，所述测试各自利用与存储器组件相关联的一或多个测试资源。可识别当前正不由任何其它测试使用的测试资源。随后，在操作540处，处理逻辑基于测试资源的所确定子集而指派测试平台的测试资源以供测试使用。举例来说，当前正不由另一测试使用的一或多个测试资源可指派给测试。在一些实施例中，可选择当前正不使用的一或多个测试资源(例如，可用测试资源或测试插座)以由如先前描述的测试使用。

在一些实施例中，用以执行测试的请求可指定可经过以完成测试的时间量。举例来说，用户可指定测试的结果应在两天内返回或完成。测试平台的测试资源可接着基于能够在所述经过时间内完成测试的测试资源而指派给测试。举例来说，可接收到用以在两天内执行测试的请求，同时特定测试资源当前正由另一测试使用。如果通过另一测试利用特定测试资源在两天之前完成且如果所请求测试可在剩余时间量(例如，从两天起)中使用特定测试资源时完成，那么特定测试资源可在另一测试已完成之后保留用于所请求测试。

图6说明计算机系统600的实例机器，在所述实例机器内可执行用于使得机器执行本文中所论述的方法中的任何一或多种的指令集。在一些实施例中，计算机系统600可对应于包含、耦合到或利用测试平台(例如，以执行对应于图1的资源分配器组件130的操作)的主机或服务器系统。在替代性实施例中，机器可连接(例如，联网)到LAN、内联网、外联网和/或因特网中的其它机器。机器可作为点对点(或分散式)网络环境中的对等机器或作为云计算基础设施或环境中的服务器或客户端机器而在客户端-服务器网络环境中的服务器或客户端机器的容量中操作。

机器可以是个人计算机(PC)、平板PC、机顶盒(STB)、个人数字助理(PDA)、蜂窝式电话、网络器具、服务器、网络路由器、交换机或桥接器或能够(依序或以其它方式)执行指定将由所述机器采取的动作的指令集的任何机器。此外，尽管说明单个机器，但还应认为术语“机器”包含机器的任何集合，所述集合单独地或共同地执行一(或多)个指令集以执行本文中所论述的方法中的任何一或多种。

实例计算机系统600包含处理装置602、主存储器604(例如，只读存储器(ROM)、快闪存储器、动态随机存取存储器(DRAM)，如同步DRAM(SDRAM)或Rambus DRAM(RDRAM)等)、静态存储器606(例如，快闪存储器、静态随机存取存储器(SRAM)等)以及数据存储系统618，它们经由总线630彼此通信。

处理装置602表示一或多个通用处理装置，如微处理器、中央处理单元或类似物。更确切地说，处理装置可以是复杂指令集计算(CISC)微处理器、精简指令集计算(RISC)微处理器、超长指令字(VLIW)微处理器或实施其它指令集的处理器，或实施指令集的组合的处理器。处理装置602也可以是一或多个专用处理装置，如专用集成电路(ASIC)、现场可编程门阵列(FPGA)、数字信号处理器(DSP)、网络处理器或类似物。处理装置602配置成执行用于执行本文中所论述的操作和步骤的指令626。计算机系统600可进一步包含网络接口装置608以经由网络620通信。

数据存储系统618可包含机器可读存储媒体624(也称为计算机可读媒体)，其上存储有一或多个指令集626或体现本文中所描述的方法或功能中的任何一或多种的软件。指令626还可在其由计算机系统600执行期间完全或至少部分地驻存在主存储器604内和/或处理装置602内，主存储器604和处理装置602也构成机器可读存储媒体。机器可读存储媒体624、数据存储系统618和/或主存储器604可对应于存储器子系统。

在一个实施例中，指令626包含用以实施对应于资源分配器组件(例如，图1的资源分配器组件130)的功能性的指令。尽管在实例实施例中机器可读存储媒体624展示为单个媒体，但术语“机器可读存储媒体”应认为包含存储一或多个指令集的单个媒体或多个媒体。术语“机器可读存储媒体”还应认为包含能够存储或编码供机器执行的指令集且使得机器执行本公开的方法中的任何一或多种的任何媒体。因此，应认为术语“机器可读存储媒体”包含但不限于固态存储器、光学媒体以及磁性媒体。

已依据计算机存储器内的数据位上的操作的算法和符号表示呈现了先前详细描述的一些部分。这些算法描述和表示是数据处理领域的技术人员用以将其工作的主旨最有效地传达给所属领域的其它技术人员的方式。算法在这里且通常认为是引起所要结果的操作的自洽序列。操作是要求对物理量进行物理操控的操作。通常(但未必)，这些量采用能够存储、组合、比较和以其它方式操控的电信号或磁信号的形式。有时，主要出于通用的原因，已经证明将这些信号称为位、值、元件、符号、字符、术语、数目或类似物是方便的。

然而，应牢记，所有这些和类似术语应与适当物理量相关联，且仅是应用于这些量的方便标签。本公开可以指将计算机系统的寄存器和存储器内的表示为物理(电子)数量的数据操控和变换为计算机系统存储器或寄存器或其它这类信息存储系统内的类似地表示为物理数量的其它数据的计算机系统或类似电子计算装置的动作和过程。

本公开还涉及用于执行本文中的操作的设备。这一设备可出于所需目的而专门构造，或其可包含通过存储在计算机中的计算机程序选择性地激活或重新配置的通用计算机。此类计算机程序可存储在计算机可读存储媒体中，如但不限于任何类型的盘(包含软盘、光盘、CD-ROM和磁性光盘)、只读存储器(ROM)、随机存取存储器(RAM)、EPROM、EEPROM、磁卡或光卡或适合于存储电子指令的任何类型的媒体，它们各自耦合到计算机系统总线。

本文中呈现的算法和显示器并非在本质上与任何特定计算机或其它设备相关。各种通用系统可与根据本文中的教示的程序一起使用，或其可证明构造用以执行所述方法更加专用的设备是方便的。将如下文描述中所阐述的那样来呈现多种这些系统的结构。此外，不参考任何特定编程语言来描述本公开。将了解，可使用多种编程语言来实施如本文中所描述的本公开的教示。

本公开可提供为计算机程序产品或软件，其可包含在其上存储有指令的机器可读媒体，所述指令可用于编程计算机系统(或其它电子装置)以执行根据本公开的过程。机器可读媒体包含用于以机器(例如，计算机)可读的形式存储信息的机构。在一些实施例中，机器可读(例如，计算机可读)媒体包含机器(例如，计算机)可读存储媒体，如只读存储器(“ROM”)、随机存取存储器(“RAM”)、磁盘存储媒体、光学存储媒体、快闪存储器组件等。

在前文说明书中，已经参照其特定实例实施例描述了本公开的实施例。将显而易见的是，可在不脱离如所附权利要求书中阐述的本公开的实施例的更广精神和范围的情况下对本公开进行各种修改。因此，应在说明性意义上而非限制性意义上看待说明书和图式。