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一种利用高介电常数复合材料实现光隔离的方法和器件

摘要

本发明公开了材料和光电子技术领域的一种利用高介电常数复合材料实现光隔离的方法和器件。所述利用高介电常数复合材料实现光隔离的器件为一维单缺陷磁光光子晶体结构,其结构式为:G1G2G1G2G1G2MG1G2G1G2G1G2G1G2G1G2G1G2G1,其中:G1为低介电常数材料,G2为高介电常数复合材料,M是掺铋钇铁石榴石。本发明解决了现有反射型磁光多层膜隔离器设计受限于已有材料电磁参量的问题。与现有的、在中心波长1.053微米处实现光隔离的一维单缺陷磁光子晶体结构相比,本发明所得结构总膜层数较少,降低了实际制备难度,结构的总厚度约为5.1微米,方便光路集成。同时,上述利用高介电常数复合材料实现光隔离的器件易于设计优化反射型磁光多层膜隔离器性能。

著录项

  • 公开/公告号CN113219558A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-08-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 南京邮电大学;

    申请/专利号CN202110527255.3

  • 发明设计人 陈将伟;郭锦程;刘世琛;华浩然;

    申请日2021-05-14

  • 分类号G02B1/00(20060101);G02F1/00(20060101);G02F1/09(20060101);

  • 代理机构32224 南京纵横知识产权代理有限公司;

  • 代理人董建林

  • 地址 210003 江苏省南京市鼓楼区新模范马路66号

  • 入库时间 2023-06-19 12:08:44

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-06-02

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G02B 1/00 专利申请号:2021105272553 申请公布日:20210806

    发明专利申请公布后的驳回

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