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适用于对地光学探测星座阳光干扰的通用分析方法

摘要

本发明提供了一种适用于对地光学探测星座阳光干扰的通用分析方法,包括如下步骤:根据卫星高度、轨道面太阳角获得单星每轨阳光干扰特性;根据单轨道面内卫星分布特性、单星每轨阳光干扰特性,获得单轨道面所有卫星阳光干扰特性;根据卫星轨道高度、卫星轨道倾角获得卫星在轨运行过程中光照回归周期;根据卫星光照回归周期,获取星座内所有轨道面太阳角分布;根据光照回归周期内所有轨道面的太阳角分布,结合上述的结果,筛选极端工况;建立极端工况仿真场景,计算获取星座阳光干扰影响的分析结果。本发明通过从单星出发、继而到单轨道面,最终到多轨道面星座,分析原理清晰,方法简单,避免大计算量分析过程,最终将阳光干扰影响简化为统计分析。

著录项

  • 公开/公告号CN113176072A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-07-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海卫星工程研究所;

    申请/专利号CN202110340727.4

  • 申请日2021-03-30

  • 分类号G01M11/00(20060101);G06F30/20(20200101);B64G7/00(20060101);

  • 代理机构31334 上海段和段律师事务所;

  • 代理人李佳俊;郭国中

  • 地址 200240 上海市闵行区华宁路251号

  • 入库时间 2023-06-19 12:00:51

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-08-12

    授权

    发明专利权授予

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