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大面积发光件上单个像素外量子效率快速检测系统及其检测方法

摘要

本发明公开大面积发光件上单个像素外量子效率快速检测系统检测及其方法,检测系统包括接收光路、定标光路和第三检测装置,接收光路用于接收待测发光件发出的入射光线,并测定其光强空间分布和待测发光件上每个像素对应的不同波长的光强;向接收光路发射不同频率入射光线以便获取接收光路对不同频率入射光线的响应函数;第三检测装置用于测定待测发光件发光时的总电流值;检测方法:接收光路的校准,待测发光件上单个像素的检测,待测发光件发光时的电流检测以及外量子效率的计算。本发明可以快速分析大面积发光件上单个像素点的外量子效率,有效提高大面积发光件上单个外量子效率检测的准确性,可应用于大面积发光器件的单个像素点的外量子效率测量。

著录项

  • 公开/公告号CN113155416A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-07-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 首都师范大学;

    申请/专利号CN202110435452.2

  • 发明设计人 廖清;德健博;尹璠;付红兵;

    申请日2021-04-22

  • 分类号G01M11/02(20060101);G01M11/04(20060101);

  • 代理机构11666 北京冠榆知识产权代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人王道川

  • 地址 100048 北京市海淀区西三环北路105号首都师范大学

  • 入库时间 2023-06-19 11:59:12

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-02-25

    授权

    发明专利权授予

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