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用于获取CT设备测量孔径位置度准确性的试块及其测量方法

摘要

本发明涉及一种用于获取CT设备测量孔径位置度准确性的试块,其特征在于:包括有:基准块,其中心开设有第一贯穿孔;滑动块,其中心开设有与第一贯穿孔大小相同的第二贯穿孔,所述滑动块滑动地设于基准块上;初始状态时,所述滑动块上的第二贯穿孔与所述基准块上的第一贯穿孔上下对齐,所述滑动块能沿基准块横向和纵向方向滑动。还公开了一种用于获取CT设备测量孔径位置度准确性的测量方法。本发明的优点在于:该试块结构简单,能够使实际产生的位置度公差可调,同时能够根据各不同厂商各不同零件的公差带要求设置公差带。另外,通过试块的CT扫描结果分析出的距离与实际距离之间比较,即可准确获取CT设备对孔径位置度测量的准确性。

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法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-03-31

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