一种高效率的材料微观结构智能识别分析方法

摘要

本发明提供一种高效率的材料微观结构智能识别分析方法，涉及材料微观结构分析技术领域。该种高效率的材料微观结构智能识别分析方法，包括以下具体内容：S1.将待测材料放置在X射线单晶体衍射仪中，关闭X射线单晶体衍射仪中的灯光，启动X射线单晶体衍射仪的X射线扫描机构，从而利用X射线扫描机构对待测材料的表面进行扫描和分析；S2.将X射线单晶体衍射仪扫描后得到的材料晶体结构数据导入计算机文件夹中存储备用；S3.将经过X射线扫描后的待测材料从X射线单晶体衍射仪中取出。通过设计简单的智能识别分析方法，不仅可以快速的分析材料的晶体结构以及相关缺陷，同时也能够结合图形信息观察材料表面成分的分布情况，从而使其整体的工作效率大大提高。