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一种提高迭代初值精度的电离层层析成像方法

摘要

本发明涉及一种提高迭代初值精度的电离层层析成像方法、计算机设备和计算机可读存储介质,该方法包括:将电离层区域分割成多个网格,确定每个网格的坐标与电子密度初值;在电离层区域下方间隔设置多台垂测仪,利用垂测仪结合星载全极化SAR数据确定多个不同点的垂直电子密度;对相应网格的电子密度初值进行更新;利用GPS获取不同路径的多条射线并反演各条射线对应的TEC值;计算每条射线在每个网格中的投影长度;基于乘法代数重建法进行层析成像迭代反演,经过多次迭代后,求得电离层区域的电子密度分布。本发明利用垂测仪和星载全极化SAR数据修正电离层IRI经验模型数据,提高了迭代初值的真实性,可提高电离层层析成像的精度。

著录项

  • 公开/公告号CN113093189A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-07-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国空间技术研究院;

    申请/专利号CN202110365452.X

  • 申请日2021-04-02

  • 分类号G01S13/90(20060101);G01S19/42(20100101);G01T1/29(20060101);

  • 代理机构11609 北京格允知识产权代理有限公司;

  • 代理人张莉瑜

  • 地址 100094 北京市海淀区友谊路104号院

  • 入库时间 2023-06-19 11:45:49

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-12-09

    授权

    发明专利权授予

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