一种对电子系统机内自检结果进行故障分析诊断的方法

摘要

本发明公开了一种对电子系统机内自检结果进行故障分析诊断的方法，包括如下步骤：S1，构建包含关联、相关参数和权重信息的故障分析诊断模型；S2，利用步骤S1构建的故障分析诊断模型得到与这些报故障的基础单元BU有信号关联的一组基础单元和它们之间的权重值；S3，设置一个权重值下门限，将权重值低于下门限的那些基础单元BU剔除掉；逐渐提高权重值的下门限，将逐步缩小与故障相关的基础单元BU的数量；S4，对步骤S3中保留下来的基础单元BU，按照权重值先后顺序进行更换和维修，从而能够快速排除电子系统的故障等；本发明可以减少对维修人员素质和经验的依赖，缩小故障排查范围，有效缩短排除电子系统故障的工作周期。