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一种光学尺测量光学镜片厚度的结构

摘要

本发明涉及一种光学尺测量光学镜片厚度的结构,它包括底座,所述底座上面设有工作台架,所述工作台架外侧设有Y轴向移动机构,所述Y轴移动机构外侧面设有Z轴向转动机构,所述工作台架内侧面且与Z轴向转动机构位置对应处设有配合Z轴向转动机构转动的X轴向转动机构,所述工作台架内侧且靠近X轴向转动机构设有主轴加工机构和光学尺机构。本发明的优点:加工镜片种类多和复杂的产品、加工精度高、加工速度快。

著录项

  • 公开/公告号CN113074647A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-07-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 深圳市东宁数控设备有限公司;

    申请/专利号CN202110313106.7

  • 发明设计人 叶华林;李浈;

    申请日2021-03-24

  • 分类号G01B11/06(20060101);

  • 代理机构11616 北京盛凡智荣知识产权代理有限公司;

  • 代理人刘爽

  • 地址 518000 广东省深圳市龙岗区横岗街道二二八工业区18栋102

  • 入库时间 2023-06-19 11:44:10

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-03-24

    授权

    发明专利权授予

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