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一种用于标准单元数据的分析方法

摘要

本发明公开了一种用于标准单元数据的分析方法,该标准单元数据分析方法将标准单元库文件解析为单行全信息格式;利用单行全信息格式并结合输入参数通过插值法得到标准单元数据,并根据需要对标准单元在本发明方法中得到的标准单元数据进行单一工艺角下的评价或多工艺角下的评价,从而筛选出更优异的标准单元。本发明通过改写数据格式使得数据的查找和处理更为高效;同时通过对标准单元参数进行多维度评分,能筛选出更适合设计的标准单元。在实际设计中实现了更优秀的时序和更低的功耗。

著录项

  • 公开/公告号CN113065294A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-07-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海天数智芯半导体有限公司;

    申请/专利号CN202110285282.4

  • 发明设计人 徐峰;于威;甘振华;刘圆;孙凌;

    申请日2021-03-17

  • 分类号G06F30/30(20200101);

  • 代理机构32252 南京钟山专利代理有限公司;

  • 代理人刘林峰

  • 地址 201100 上海市闵行区陈行公路2388号3幢101-5室

  • 入库时间 2023-06-19 11:42:32

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-06-17

    授权

    发明专利权授予

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