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栅极结构中氮化钛层厚度的确定方法、装置、设备与介质

摘要

本发明提供了一种栅极结构中氮化钛层厚度的确定方法、装置、设备与介质,栅极结构中氮化钛层厚度的确定方法,包括:获取N个栅极结构的栅极电阻信息,每个栅极结构均包括至少一层氮化钛层,每个栅极结构中,至少有一层氮化钛层与其他栅极结构的氮化钛层是同类的,针对于任意两个栅极结构,至少有一层氮化钛层是不同类的,同类的氮化钛层所形成的电阻、厚度是相同的;其中的N为大于或等于2的整数;根据所述N个栅极结构的栅极电阻信息,确定所述N个栅极结构中至少部分氮化钛层的厚度。

著录项

  • 公开/公告号CN113053767A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-06-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 普迪飞半导体技术(上海)有限公司;

    申请/专利号CN202110255733.X

  • 发明设计人 王健;毛宏坤;李承启;杨一鸣;

    申请日2021-03-09

  • 分类号H01L21/66(20060101);

  • 代理机构31343 上海慧晗知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人李茂林;徐海晟

  • 地址 200433 上海市杨浦区四平路1779号一层1016室

  • 入库时间 2023-06-19 11:39:06

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-09-06

    授权

    发明专利权授予

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