用于使用偏振和相位检测光电二极管获得三维形状信息的装置和方法

摘要

本公开涉及用于使用偏振和相位检测光电二极管获得三维形状信息的装置和方法。在一些实施例中，提供了图像传感器。图像传感器包括布置成光电二极管阵列的多个光电二极管。多个光电二极管包含被配置为相位检测光电二极管的第一组光电二极管，以及被配置为偏振检测光电二极管的第二组光电二极管。在一些实施例中，提供了控制器。控制器包括电路系统，所述电路系统被配置为处理来自光电二极管阵列的第一组光电二极管的信号以获得深度信息；处理来自光电二极管阵列的第二组光电二极管的信号以获得偏振信息；处理偏振信息以获得模糊的一组表面法线；并且使用深度信息处理模糊的一组表面法线以获得三维形状图像。