芯片电性测试探针头对位方法、系统、存储介质及终端

摘要

本发明提供一种芯片电性测试探针头对位方法、系统、存储介质及终端，所述芯片电性测试探针头对位方法通过获取芯片基准二维影像与芯片实时二维影像，使两影像重合来实现所述探针头的自动对位，方便快捷，该方法可同时保证探针卡上所有探针头均位于对应衬垫中央且与衬垫接触程度相同，可有效提高芯片可靠性，延长探针头的使用寿命。