中子辐照后电荷耦合器件暗信号的原位测量系统及方法

摘要

本发明提供一种中子辐照后电荷耦合器件暗信号的原位测量系统及方法，解决现有测量系统在中子辐照实验后器件无法反映处于真实辐射环境及工作状态下暗信号参数变化规律的问题。该系统包括辐射源、CCD辐照单元、信号处理单元和上位机；CCD辐照单元包括CCD传感器，CCD传感器的感光面与中子源束流方向垂直；信号处理单元包括FPGA主控模块、CCD驱动电路模块、A/D转换模块、图像数据缓存模块、传输模块和电源模块；CCD驱动电路模块分别与CCD传感器、FPGA主控模块连接；A/D转换模块分别与CCD传感器、FPGA主控模块连接；图像数据缓存模块与FPGA主控模块相连；传输模块与FPGA主控模块相连；上位机对图像数据进行处理，获得暗信号的变化曲线。