首页> 中国专利> 一种在同轴光源照明条件下基于亚像素的PCB线宽检测方法

一种在同轴光源照明条件下基于亚像素的PCB线宽检测方法

摘要

本发明公开了一种在同轴光源照明条件下基于亚像素的PCB线宽检测方法,其依次包含以下步骤:S1、采用平行光源对线路表面进行照射,由相机进行拍摄,然后将图像转换为灰度图像;S2、从灰度图像中获取线路其中一边缘的灰度梯度值;S3、从S2的灰度梯度值中获取同一Y轴坐标下的多个X轴坐标的坐标值以及相应X轴坐标值上的灰度梯度值;S4、将S3中获取的X轴坐标值与灰度梯度值进行最小二乘曲线拟合,得到拟合后曲线的灰度梯度值的最大值,与该最大值相对应的X轴坐标值X1即为线路其中一边缘的X轴坐标值;S5、重复S2‑S4的步骤得出线路另一边缘的X轴坐标值X2;S6、坐标值x1与坐标值X2差值的绝对值即为线路的线宽数值;可有效提高了测量精度。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-08-11

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01B11/02 专利申请号:2021101863658 申请公布日:20210618

    发明专利申请公布后的视为撤回

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号