具静电放电防护功能的半导体装置及静电放电的测试方法

摘要

本发明公开了一种具有静电放电防护功能的半导体装置及其静电放电的测试方法，该静电放电防护的半导体装置包含集成电路、密封环以及导电层。其中，集成电路设置在元件基底上，并具有第一区域以及一第二区域，而密封环则设置在元件基底上，环绕集成电路。导电层至少覆盖第一区域，并且电连接密封环。