首页> 中国专利> 一种测量蜗轮副双啮误差的结构

一种测量蜗轮副双啮误差的结构

摘要

一种测量蜗轮副双啮误差的结构属于齿轮测量技术领域。本发明介绍了此蜗轮副双面啮合测量仪的系统结构,蜗轮副双啮仪测量中心距和中心高可根据被测工件尺寸进行调节,因此可测量多种规格的蜗轮蜗杆。仪器可以将测量通过测量软件实时呈现出来,测量范围广,测量精度高,可满足生产现场蜗轮蜗杆的快速测量。

著录项

  • 公开/公告号CN112902849A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-06-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京工业大学;

    申请/专利号CN202110071864.2

  • 申请日2021-01-20

  • 分类号G01B11/02(20060101);G01M13/021(20190101);

  • 代理机构11203 北京思海天达知识产权代理有限公司;

  • 代理人刘萍

  • 地址 100124 北京市朝阳区平乐园100号

  • 入库时间 2023-06-19 11:16:08

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-04-19

    授权

    发明专利权授予

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号