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一种用于耦合腔加速结构的端耦合腔测量装置及端耦合腔测量方法

摘要

本发明公开了一种用于耦合腔加速结构的端耦合腔测量装置,包括测量部和网络分析仪。其中,所述测量部包括主体、耦合环和同轴线。所述主体设有穿孔;所述耦合环设置在所述穿孔中;所述同轴线的一端穿设在所述穿孔中,并与所述耦合环连接;所述同轴线的另一端延伸至所述主体并与所述网络分析仪连接。本发明的技术方案通过将端耦合腔测量装置的主体置于桥式耦合器的中心腔体与端耦合腔之间的连接槽口中并令耦合环一侧位于端耦合腔,调节网络分析仪的参数测量单端口反射系数S11,即可简单、快速地、准确地获取端耦合腔的测试结果,进而通过测量结果修正端耦合腔的尺寸直至达到指标要求,能够有效降低机械加工量和调谐工作量。

著录项

  • 公开/公告号CN112798873A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-05-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国原子能科学研究院;

    申请/专利号CN202011616416.8

  • 发明设计人 杨京鹤;杨誉;

    申请日2020-12-30

  • 分类号G01R27/28(20060101);G01R23/02(20060101);

  • 代理机构11021 中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人张成新

  • 地址 102413 北京市房山区新镇三强路1号院

  • 入库时间 2023-06-19 11:00:24

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-10-28

    授权

    发明专利权授予

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