脑异物微波成像检测方法、装置及计算机可读存储介质

摘要

本发明公开一种基于散射参数对脑异物进行快速微波成像检测的方法。本发明考虑到天线对成像效果的影响，构造不含对角线元素的散射矩阵，并基于伯恩近似公式将非线性逆散射问题转为线性问题，通过对散射矩阵进行截断奇异值分解和对整数阶贝塞尔函数的研究，设计出一个不需迭代的成像方法，采用这个方法进行成像，不仅能准确定位较小异物的位置，而且减少了计算量。本发明成像精度较高、速度快，具有良好的实际应用价值。