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基于光电导技术的皮秒级脉冲波形参数测量装置和方法

摘要

本发明公开一种基于光电导技术的皮秒级脉冲波形参数测量装置和方法,包括微波信号源、数据采集与分析模块和匹配终端,微波信号源的信号输出端和数据采集与分析模块的参考信号输入端连接,微波信号源的10MHz参考信号输出端依次通过功分器、皮秒级脉冲产生器、适配器、共面波导与匹配终端相连;功分器的信号输出端通过激光器重复频率锁定模块连接有飞秒激光器,飞秒激光器的光输出端依次通过光电导探针、电流放大器与数据采集与分析模块相连。采用本发明提供的测量装置和方法,有效地解决了目前商品型示波器无法满足脉冲半幅度宽度日益减小的皮秒级脉冲波形测量需求的问题。

著录项

  • 公开/公告号CN112763082A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-05-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京无线电计量测试研究所;

    申请/专利号CN202011375143.2

  • 发明设计人 刘爽;龚鹏伟;谢文;谌贝;姜河;

    申请日2020-11-30

  • 分类号G01J11/00(20060101);

  • 代理机构11024 中国航天科工集团公司专利中心;

  • 代理人张国虹

  • 地址 100854 北京市海淀区永定路50号

  • 入库时间 2023-06-19 10:54:12

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-04-19

    授权

    发明专利权授予

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