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HIGH FREQUENCY MEASUREMENTS OF INTEGRATED CIRCUIT DEVICES AND INTERCONNECT (S-PARAMETER, SAMPLING OSCILLOSCOPE, PHOTOCONDUCTOR, PULSED LASER, PICOSECOND)

机译：集成电路设备的高频测量和互连（S参数，采样示波器，光电导体，脉冲激光，皮秒）

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作者
EISENSTADT, WILLIAM RICHARD.;
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作者单位

Stanford University.;

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授予单位 Stanford University.;
学科
学位 Ph.D.
年度 1986
页码 239 p.
总页数 239
原文格式 PDF
正文语种 eng
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