公开/公告号CN112767802A
专利类型发明专利
公开/公告日2021-05-07
原文格式PDF
申请/专利权人 中山大学;
申请/专利号CN202011556550.3
申请日2020-12-24
分类号G09B23/22(20060101);G01B11/06(20060101);G01M11/02(20060101);G01N21/25(20060101);G01N21/27(20060101);G01N21/45(20060101);
代理机构44102 广州粤高专利商标代理有限公司;
代理人张金福
地址 510275 广东省广州市海珠区新港西路135号
入库时间 2023-06-19 10:54:12
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2022-03-29
授权
发明专利权授予
机译: 单色低相干干涉仪可同时测量折射率和厚度
机译: 一种用于测量样品激发荧光质的荧光的装置,其形式为滴液激发荧光质,其基本上平行地包含在两个表面铁砧之间的表面张力的作用下。测量样品激发荧光质的荧光的方法两个基本平行的超细砧座之间的表面张力所包含的纳米粒子的量和用于测量样品受到来自包括低于亚微米级的光源的光的样品的荧光光谱的方法该样品光谱的光源的光谱扩展进行测量以获得荧光光谱
机译: 光谱光学相干断层扫描(OCT)和傅里叶域低相干干涉术的多个窗口处理方案