公开/公告号CN112745374A
专利类型发明专利
公开/公告日2021-05-04
原文格式PDF
申请/专利权人 中国科学院生物物理研究所;
申请/专利号CN201911050788.6
申请日2019-10-31
分类号C07K7/08(20060101);C07K14/00(20060101);C12Q1/37(20060101);G01N21/64(20060101);
代理机构11021 中科专利商标代理有限责任公司;
代理人高丽娜;张莹
地址 100101 北京市朝阳区大屯路15号
入库时间 2023-06-19 10:52:42
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2022-11-25
授权
发明专利权授予
机译: 一种用于制造芯片部件外部电极的金属粉末的质量评估方法,一种通过质量评估方法制备的用于芯片部件外部电极的金属粉末质量评估,一种使用金属粉末的金属浆料质量评估方法
机译: 一种使用氧化物半导体薄膜的质量评估方法,所述氧化物半导体薄膜的质量控制方法和所述质量评估方法的半导体制造设备。
机译: 一种用于机动车动力总成的氧化气体质量流量评估方法,涉及到测量压力和发动机转速,并应用具有压力,气体质量流量,速度和常数系数等参数的公式