一种光开关阵列中光开关的测试与标定系统及方法

摘要

本发明公开了一种光开关阵列中光开关的测试与标定系统及方法，上位机控制光开关控制电源向各个光开关输出电压，扫描各个光开关的第一电压‑光功率响应曲线，确定光功率极值对应的电压，将其设置为各个光开关的第一工作点电压，完成第一次扫描；上位机再次控制光开关控制电源向各个光开关输出电压，并扫描各个光开关的第二电压‑光功率响应曲线，确定光功率极值对应的电压，将其设置为各个光开关的第二工作点电压，完成第二次扫描，直至最后一次扫描的各个光开关的工作点电压与上一次扫描对应的各个光开关的工作点电压差值小于第一预定阈值，或者直至各个光开关的开关消光比均大于第二预定阈值，完成光开关的测试与标定。