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一种界面II型裂纹的临界能量释放率测试方法

摘要

本发明公开了一种界面II型裂纹的临界能量释放率测试方法,其利用制备多组不同预制界面裂纹长度的剪切试件,对各组剪切试件进行剪切实验,以获得剪切试件的载荷~位移曲线,再将各组试件的载荷~位移曲线进行归一化处理,建立载荷~位移曲线方程,确定临界位移或临界载荷,然后依据能量释放率的定义计算界面II型裂纹的能量释放率,确定其临界能量释放率。本发明可提供各种界面II型裂纹的临界能量释放率的有效测试方法,为制定界面II型裂纹的临界能量释放率测试标准/规程、建立界面裂纹问题的断裂准则、对各种复合结构的界面剥离破坏行为进行评价而奠定基础。

著录项

  • 公开/公告号CN112710566A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-04-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华南理工大学;

    申请/专利号CN202011491149.6

  • 申请日2020-12-17

  • 分类号G01N3/24(20060101);G01N1/38(20060101);G01N1/36(20060101);

  • 代理机构44245 广州市华学知识产权代理有限公司;

  • 代理人梁睦宇

  • 地址 510640 广东省广州市天河区五山路381号

  • 入库时间 2023-06-19 10:46:31

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-03-25

    授权

    发明专利权授予

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