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一种基于二维材料的反对称磁电阻器件制备方法

摘要

本发明公开了一种基于二维材料的反对称磁电阻器件制备方法,首先制备金属电极;采用匀胶机在硅衬底上旋涂PMMA,用电子束曝光机曝光硅衬底,在EBL系统上设计出输运测量结构区域,并进行曝光;将曝光后的硅衬底放置于显影液中进行显影操作,然后放置于异丙醇中定影;在定影后的硅衬底上蒸镀Ti/Au金属层,并在丙酮中剥离,获取金属电极;然后筛选出厚度不均匀的Fe3GeTe2纳米级厚度薄片,用二维材料转移平台先后将Fe3GeTe2和hBN转移至带有金属电极的硅衬底上;本发明通过筛选出厚度不均匀的Fe3GeTe2纳米级厚度薄片制备出自旋电子学器件,可以实现器件在高中低三个阻态的调节,解决了当下多阻态磁存储器件中器件制备环节繁琐,容错率低的问题。

著录项

  • 公开/公告号CN112713240A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-04-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 南京邮电大学;

    申请/专利号CN202110125771.3

  • 发明设计人 普勇;曹志;钮伟;

    申请日2021-01-29

  • 分类号H01L43/12(20060101);H01L43/08(20060101);H01L43/10(20060101);H01L43/02(20060101);

  • 代理机构32249 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙);

  • 代理人徐激波

  • 地址 210003 江苏省南京市鼓楼区新模范马路66号

  • 入库时间 2023-06-19 10:44:55

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-07-22

    授权

    发明专利权授予

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