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超声扫描设备及超声扫描方法

摘要

本申请涉及无损检测技术领域,公开了一种超声扫描设备及超声扫描方法,该超声扫描设备在现有的超声探头的前端处加装低声阻固定构件以实现与待探测半导体元器件直接接触,从而使得待探测半导体元器件脱离液体扫描环境,避免出现因液体的高声阻导致超声波信号衰减的情况,进一步提高超声成像效果。

著录项

  • 公开/公告号CN112697878A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-04-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 苏州通富超威半导体有限公司;

    申请/专利号CN202011256589.3

  • 发明设计人 徐凯;曾昭孔;刘永祥;宁福英;

    申请日2020-11-11

  • 分类号G01N29/04(20060101);G01N29/06(20060101);G01N29/24(20060101);G01N29/28(20060101);

  • 代理机构11435 北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人郭栋梁

  • 地址 215000 江苏省苏州市工业园区苏桐路88号

  • 入库时间 2023-06-19 10:43:23

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