首页> 中国专利> 一种单个纳米颗粒的探测方法及探测装置

一种单个纳米颗粒的探测方法及探测装置

摘要

本申请提供了一种单个纳米颗粒探测方法及探测装置,包括:激发表面等离激元驻波;纳米颗粒放置于表面等离激元驻波场;获取探测信号图像;调节表面等离激元驻波波腹位置;调节过程中判断探测信号图像的各个位置是否存在干涉像;若是则存在纳米颗粒;获取纳米颗粒位于波腹位置的图像作为目标信号图像;依据目标信号图像及纳米颗粒的折射率,获取纳米颗粒的尺寸。基于表面等离激元驻波与纳米颗粒相互作用实现单个纳米颗粒的实时探测,可增强局域场分布增加纳米颗粒的散射光强度提高探测灵敏度。折射率较低的介质纳米颗粒散射强度与介质纳米颗粒尺寸成线性关系,可探测到最小介质纳米颗粒直径是传输表面等离激元探测最小纳米颗粒直径的一半。

著录项

  • 公开/公告号CN112557262A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-03-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院微电子研究所;

    申请/专利号CN201910916762.9

  • 申请日2019-09-26

  • 分类号G01N15/02(20060101);G01N21/73(20060101);

  • 代理机构11227 北京集佳知识产权代理有限公司;

  • 代理人纪志超

  • 地址 100029 北京市朝阳区北土城西路3号中国科学院微电子研究所

  • 入库时间 2023-06-19 10:24:22

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-12-09

    授权

    发明专利权授予

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号