一种通过AD转换结果进行选择的测试开发方法和装置

摘要

本发明公开了一种通过AD转换结果进行选择的测试开发方法和装置，包括用于对待测试芯片进行测试的测试机，所述测试机包括用于为待测试芯片供电的电压提供单元、测量单元和数据处理单元，所述测试单元与数据处理单元连接；所述电压提供单元与待测试芯片的ADC输入端口连接，所述测试单元与待测试芯片的测试端口连接。本发明有效利用目前市面上大部分的数字、模拟或数模混合芯片均有内部ADC模块和存储单元这一特性，提高量产测试的开发便利性，降低量产测试成本。