集成电路间总线I2C从机以及I2C控制器测试方法

摘要

本发明提供一种集成电路间总线I2C从机，包括：调试接口，与SOC芯片的调试控制模块通讯连接；控制寄存器，与所述调试接口通讯连接，所述控制寄存器用于通过调试接口接收所述SOC芯片调试控制模块发送的工作参数并进行存储；I2C测试模块，与SOC芯片的I2C控制器和控制寄存器通信连接，所述I2C测试模块用于接收所述I2C控制器发送的指令，并依据所述控制寄存器存储的工作参数产生响应；记录模块，与所述I2C测试模块和调试接口通讯连接，所述记录模块用于保存所述I2C测试模块接收和发送的数据以及所述I2C的时序信息，并通过所述调试接口向所述SOC芯片的调试控制模块提供所述I2C测试模块接收和发送的数据以及所述I2C的时序信息。本发明能够通过对时序、测试数据以及响应数据的读取和保存，能够直接或间接的对I2C控制器的底层特性进行验证。