一种铁电液晶延迟器光学特性检测方法及装置

摘要

本发明属于光学元件检测领域，并具体公开了一种铁电液晶延迟器光学特性检测方法及装置，其包括步骤：S1、入射偏振光通过铁电液晶延迟器得到出射偏振光，同时使铁电液晶延迟器的快轴方位角在两个状态之间切换，测量在两个状态下出射偏振光光谱的斯托克斯向量；S2、旋转铁电液晶延迟器，使两个状态的快轴方位角均增加Δ；S3、重复步骤S1和S2，得到多组不同快轴方位角在两个状态下的出射偏振光光谱的斯托克斯向量，根据出射偏振光光谱的斯托克斯向量与铁电液晶延迟器光学特性参数的对应关系，拟合得到铁电液晶延迟器的光学特性参数。本发明可测量快轴方位角高速变化的FLC的光学特性，并且可以在一次测量循环中获得所有特征光谱参数。