首页> 中国专利> 一种空间指向测量仪器微振动影响测量装置及方法

一种空间指向测量仪器微振动影响测量装置及方法

摘要

本发明涉及一种空间指向测量仪器微振动影响测量装置及方法,星模拟器通过三点定位支撑结构与气浮平台连接固定;六自由度微振动模拟器通过支撑系统与零刚度系统连接;零刚度系统与悬吊系统连接;毫角秒级光学敏感器悬挂固定于六自由度微振动模拟器作业台面;毫角秒级光学敏感器、数据采集与处理系统通过线缆连接,进行信号传输;六自由度微振动模拟器、信号驱动设备通过线缆连接,进行微振动信号的产生与控制。光源、星模拟器、毫角秒级光学敏感器中心线位于同一条直线上。支撑系统上安装有加速度传感器;六自由度微振动模拟器上下台面分别安装有加速度传感器;毫角秒级光学敏感器安装接口和光学元件上分别安装有加速度传感器以及一个角位移传感器。

著录项

  • 公开/公告号CN112504595A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-03-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京控制工程研究所;

    申请/专利号CN202011164958.6

  • 申请日2020-10-27

  • 分类号G01M7/06(20060101);G01M11/02(20060101);G01M11/08(20060101);G01C25/00(20060101);

  • 代理机构11009 中国航天科技专利中心;

  • 代理人庞静

  • 地址 100080 北京市海淀区北京2729信箱

  • 入库时间 2023-06-19 10:16:30

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-07-05

    授权

    发明专利权授予

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号